探針冷熱臺專為樣品變溫電學性能測試而設計，用于表征材料電學特性隨溫度的變化規(guī)律。該設備在光學冷熱臺基礎上，集成了電學模塊（包含探針、位移機構及電學接口）。通過移動探針，可實現(xiàn)針尖與樣品表面任意區(qū)域的精準接觸。電信號經由探針、信號線、接口等，傳輸至外部測量儀器（如源表、數(shù)字萬用表等），獲取相關電學數(shù)據(jù)，進而分析材料在不同溫度下的電學特性。

探針冷熱臺根據(jù)探針座的不同 ，可分為內部調節(jié)探針臺 、外部調節(jié)探針臺、電控調節(jié)探針臺等。

本系列產品具備4K至1700℃的超寬范圍精確控溫能力。依據(jù)目標溫度及應用特點，集成包括：液氦制冷、液氮制冷、熱電制冷、電阻加熱、紅外加熱、激光加熱等在內的多種前沿溫控解決方案，為復雜變溫實驗提供強大支持。

同時，提供多語言SDK（如Labview、C#等），賦能客戶實現(xiàn)高效定制化集成。

果果儀器ECH400V-EM使用內置位移臺，通過微分頭調節(jié)。

外部調節(jié)探針臺ECH400V-EM特點：

• • 溫度范圍：-190℃~400℃

• • 溫度穩(wěn)定性：±0.1℃

• • 真空腔室

• • XYZ軸行程：±6mm

• • 高精度控溫

• • 專業(yè)溫控軟件

• • 支持定制

外部調節(jié)探針臺ECH400V-EM參數(shù)：